讯技casey 发表于 2024-9-19 08:46:06

马赫-曾德尔干涉仪

本帖最后由 讯技casey 于 2024-9-19 08:46 编辑

摘要


干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。

建模任务



元件倾斜引起的干涉条纹



元件移位引起的干涉条纹



文件信息




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