马赫-曾德尔干涉仪

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讯技casey 发表于 2024-9-19 08:46:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 讯技casey 于 2024-9-19 08:46 编辑

摘要

1-1Z52Q03Q6128.png.jpg

干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。

建模任务

1-1Z52Q03TG53.png.jpg


元件倾斜引起的干涉条纹

1-1Z52Q04036132.png.jpg

元件移位引起的干涉条纹

1-1Z52Q04054C8.png.jpg


文件信息

1-1Z52Q04133V1.png.jpg



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