摘要
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
建模任务
具有高反射(HR)涂层的标准具
图层矩阵解算器
分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
|
