等倾干涉和等厚干涉是两种光学干涉现象，区别主要体现在干涉产生的条件和干涉效应上。
1. 干涉产生的条件不同：等倾干涉是指两条光线在接近等角度入射不同介质界面上产生干涉，而等厚干涉是指两条光线在接近相同厚度的薄膜上产生干涉。
2. 干涉效应不同：等倾干涉主要表现为明暗条纹的交替出现，即在干涉图案中有明亮的区域和暗亮的区域。它通常用于测量曲面的形状和检验光学元件的质量。而等厚干涉则表现为彩色的干涉条纹，通过观察干涉条纹的变化可以得到薄膜的厚度信息，并且可以用于制备光学薄膜、检测薄膜的质量等。
总而言之，等倾干涉和等厚干涉在产生条件和效应上有所不同，分别适用于不同的实验和应用领域。
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