在光学制造中，PV和IRR是两个重要的指标，它们分别代表了光学元件表面形貌的两个方面。具体解释如下：
1. PV（Peak-to-Valley）：顶点与谷底差值。即测量表面离最低点和最高点之间的距离，以确定表面的最大局部表面误差。通常用于描述光学元件表面整体凸起或凹陷的大小，表征表面的整体平整度。
2. IRR（Irregularity）：不规则性。即测量表面波动的局部不规则性，反映表面的微小不平整程度。通常使用根平方均值（RMS）来测量，表示表面的微观波动程度。
这两个指标都是用来描述表面形貌的，其中PV更多用于描述整体表面形状，IRR更多用于描述局部表面不规则性。在光学元件的制造和测试过程中，对这两个指标进行精确的控制和测量非常关键，直接影响光学元件的成像质量和性能。
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