下面追迹光线并且查看能量分布,如下图所示。
这里改变了绘图样式和颜色级别,可以通过右击图表,选择change color level 来设置。
图14. 光线追迹效果
在 Analysis/Polarization Spot Diagram (Ctrl+Shift+L) 里查看分析面上的光线偏振情况,应该都是方向为-45度的线偏光,如下图所示。也可以将接收面移动到偏振片之前,将接受面沿z轴的偏移量从10 单位长度调整到3,查看一下这里光线的偏振情况。可以看到o光和e光在同一倾斜角,不同方位角时分量会不同。
图15. 分析面上光线的偏振情况
图16. 偏振片前光线的偏振情况
下面考虑将偏振片旋转一定角度后干涉结果会如何变化,如下图,将偏振片绕z轴旋转 -80度。
图17. 将偏振片旋转一定角度
图18. 旋转偏振片后的干涉情况
偏振干涉的干涉图样是千变万化的,现在调整光轴方向倾斜一个小的角度,观察会出现什么结果。
晶体的光轴或者渐变折射率材料(GRIN)的方向可以在 Tools -> edit/view GRIN/Birefrigent Material position/orientation (查看调整渐变折射率材料/双折射材料位置方向)中调整,分别选者材料和元件,调整位置或角度,如下图所示。
图19. 调整双轴晶体晶轴方向
图20. 光轴沿线x轴旋转3度后的干涉图样
从上图可以看出,倾斜光轴只是相当于平移了干涉图样。
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