15. A1：获得整个系统—LPD
在最初，IFTA总是输出一个轴向传输系统。
因此，我们将稍微的修改此系统以用于后续实际几何结构的最终仿真。
首先，我们进行设计位相传输数据的最后准备。
16. A1：应用SLM孔径
现在，我们需要提取对应与实际SLM像素数的透射区域。
如果在衍射光束整形器会话编辑器窗口中点击下一步，该提取将会自动完成。
然后点击提取 可以获得包含指定孔径的设计的透射函数。
17. A1：调整采样距离
重新调整X方向的采样距离，这仅在IFTA设计中需要。(在整个系统中，SLM有其原有的采样尺寸和预期的倾斜角度。)
可通属性浏览器的数据标签下完成采样间距的重新调整。
如果整个系统已经依据轴上系统设计(透射式或者反射式光束分束)，该操作则没有必要。
18. A1：交换透过率函数
19. A2：转换到基本工具箱LPD
点击衍射光学工具箱光路图的光路编辑器中工具按钮，然后点击转换为基本工具箱光路图。
通过此步骤，你可以获得完全的光学元件选择树状列表以在光路图中插入元件。
20. A2：调整实际系统的几何结构
21. A3 :设置2f系统
由于理想透镜元件不适用于离轴非傍轴模拟，因此必须使用下列之一进行更换：
为了考虑相应的像差在后面的所用的透镜。
如此处所演示—通过一个2f元件，即实现一个完美无像差的傅里叶透镜。
如，该2f系统元件可以完美地将斜光束聚焦到预期位置的平面显示屏上，以补偿非傍轴。编辑对话框中的参数设置已经考虑了元件前后的传播距离。
文件: SLM.0001_TopHat_SLM-Design_5_FinalReflectiveSetup.lpd
22. A3 :选择旋转算子
23. A4 :模拟像素化透射函数
在默认设置下，VirtualLab通过单个数据点(仿真像素)仿真每一个设计的透过像素。
若考虑每一矩形转换像素的效应，需要用更多的数据点来描述像素。
根据引入的像素因子，我们以3×3数据点仿真每个转换像素区域。
此时，我们没考虑SLM像素间隔。这可以被视为一个特殊的组件，将在SLM.0002中会介绍。
上述考虑将会增加计算时间以及输出场尺寸。
24. A5 :完整系统的仿真
操作&重点关注反射
不同几何结构，屏幕&加工
考虑反射
关于期望设置的几何结构，当设计这样一个光束整形元件时，用户需要考虑如下问题：
结构应放在元件的哪一边。
系统是透射式还是反射式。
目标图案是在透射屏上观察研究还是在不透明屏幕上。
如何进一步使用数据(制造商/SLM输入)(需要什么样的坐标系统)。
因此，用户可能需要：
以镜像图案设计和/或
采用一个z方向缩放为-1(翻转)或一个x方向缩放为-1（反射）的结构以避免镜像效应。VirtualLab为这种情况提供了所有必要的工具。
对于提出的用于SLM系统的点对称图案，无需特别注意的事项。
SLM应用的数据输出
1. Bitmap导出
设计之后，传输数据需要转移到SLM。一般的方法是将数据转换为bitmap(BMP)格式，并通过图形/显示驱动来启动SLM。
可通过以下步骤完成这样的BMP输出：
1. 如果在IFTA设计中引入量化等级，则可根据SLM的识别等级数完成操作
2. 与导入的SLM位相修正文件相乘(如果SLM制造商提供了这样的文件)
3. 移动位相到实部
4. 提取正值
5. 归一化最大值为1
6. 以可识别等级数目分别乘以实部。如255(0255)
7. 输出BMP(文件>输出)-即实部以灰度0到可识别SLM等级数
2. 导出：1.引入量化等级
可在设计过程中或设计完成后进行量化。
1. 在IFTA设计&优化过程中引入等距等级(如位相)会增加计算时间。
但是对于少量的量化等级，可以使用该操作，因为处理过程通过智能计算(软件自带)会流畅地完成。
2. 如果SLM可识别大量的级次(也就是近乎连续，如200)，那么在后续可以应用强行量化，因为通过界面几乎无法改变透射，因此几乎不改变优化函数值。
通过 操作（Manipulation）>量化(Quantization)>强行量化(Hard Quantization)完成。
3. 导出：2.SLM位相校正
一般SLM并不是完全平的，因此一些制造商提供了一个特定的位相校正函数，应与设计的透射函数相乘。
导入校正函数，并将其与计算的透射函数相乘，使用键盘上的“*”按钮，或者通过 操作（Manipulation）>阵列(Array)-阵列操作(Array Operations)>相乘(Multiplication)
关于VirtualLab数据导入的更多细节查找案例337.01 。
4. 导出：3.位相到实部（略）
|
|
