马赫-曾德尔干涉仪

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cherryjhy 发表于 2022-12-21 08:43:31 | 显示全部楼层 |阅读模式
摘要

1-1Z52Q03Q6128.png

干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。

建模任务

1-1Z52Q03TG53.png


元件倾斜引起的干涉条纹

1-1Z52Q04036132.png

元件移位引起的干涉条纹

1-1Z52Q04054C8.png


文件信息

1-1Z52Q04133V1.png


更多阅览
-  Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
-  Fizeau Interferometer for Optical Testing



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