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ZEMAX详解（19）--怎样查看光学系统的像差并找到像差最敏感的面

2021-12-20 11:11| 发布者：Davis| 查看：5163| 评论：0|原作者: 小小光08

摘要：本文介绍如何利用ZEMAX中的塞德尔图来查看光学系统中的各种像差系数，并快速定位到影响成像质量最大的面。通过分析像差，可以确定系统中最敏感的面和公差范围，以便优化系统性能。本文还以畸变为例，说明了如何在塞德尔图中分析像差系数的影响。

打开塞德尔图（Siedel Diagram），可以查看一个系统中给定关于三阶像差的图样描述。

在一个复杂的光学系统中，在设计阶段，还想通过考虑增加一个非球面或者一个附加的元件来提高系统的性能，这时首先要考虑公差，确认哪个面是最敏感的。

查看塞德尔图，如下图：

塞德尔图将每个面上的七个像差系数用不同颜色的柱形图显示出来，并作为一个系统的总和。它有助于判断那些面上某个像差的正负和哪个面是平衡像差。

利用塞德尔图，也可以快速地找到系统中对成像质量影响最大的面。例如，上图中对第12面的畸变是比较大的。