用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量任务/系统说明
亮点
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换；
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真；
具体要求：光源
具体要求：用于准直的消色差透镜
具体要求：分束器
具体要求：参考光路反射镜
具体要求：测试光路反射镜
具体要求：探测器
http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114951149.png
结果：3D光线追迹
结果：场追迹
结果：移动样品的场追迹结果
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。
文件&技术信息
http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F9121152342D.png
页:
[1]