cherryjhy 发表于 2023-3-16 08:41:09

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量

任务/系统说明

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F91211443TM.png

亮点

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114516194.png

•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;

具体要求:光源

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114551I0.png

具体要求:用于准直的消色差透镜


http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F91211461L01.png


http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114A2229.png

具体要求:分束器

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114HK38.png

具体要求:参考光路反射镜

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114Q0231.png

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114SC39.png

具体要求:测试光路反射镜

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114Z5111.png

具体要求:探测器

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912114951149.png

结果:3D光线追迹

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F912115030635.png

结果:场追迹

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F91211505O60.png

结果:移动样品的场追迹结果

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F91211513AW.png
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。

文件&技术信息

http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/170912/1-1F9121152342D.png

页: [1]
查看完整版本: 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪