成像质量分析
在毫米级平面光学元件成像质量分析，应该从那些方面来考虑。 * 光学系统的准确性：考虑元件尺寸、曲率半径、表面平整度等因素，判断光学系统中每个元件是否达到设计要求。* 折射/反射功能：通过测试每个元件折射/反射功能（包括回转误差），计算出理论上应有的焦距和像素大小。
* 镜片损失：测量每个元件的镜片损失，比较实际和理论上的发射功率差异，以确保性能损失在可接受的范围之内。
* 成像质量的衡量：使用聚焦评估、高斯曲面分析、空间频率反应等方法来评估成像质量，确保元件产生的影像色彩准确、清晰、无杂质，以便进行后续处理。
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